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無論在研發還是在生產制造中，工程師們在測試射頻元件時都面臨許多重大挑戰。在研發過程中，更快并以較少的重復工作來解決設計難題至關重要。生產制造過程中，需要在保持精度和產出率的同時，縮短測試時間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網絡分析儀。由于PNA-X的先進體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網絡分析儀相關的傳統散射參數（S參數）的各種測量進行配置。一些內置組件（如第二個信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線性特性進行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

矢量網絡分析儀（VNA）是測定元件特性經常使用的儀器。傳統VNA包含一個給被測器件（DUT）和多測量接收機提供激勵的射頻信號發生器，以測量信號在正向傳輸和反向傳輸時入射、反射和傳輸信號（圖1）。信號源在固定功率電平進行掃頻以測量S參數，而在固定頻率上對其功率掃描，可以測量放大器的增益壓縮和AM-PM轉換。這些測量能測定線性和簡單非線性器件的性能。

對于基本的S參數和壓縮測試，信號源和調諧到相同的頻率。不過，通過使信號源和接收機頻率偏移，將接收機調諧至激勵頻率的整數倍，也能測出放大器的諧波性能。使信號源和接收機頻率偏移的能力同樣可以測量頻率轉換器件（如混頻器和變頻器）的幅度、相位和群延遲性能。

兩個內置信號源的性能增強也會簡化放大器和混頻器測量。例如，測試端口可利用的大信號功率通常為+13至+20 dBm（取決于型號和頻率）。這對將放大器驅動到非線性區很有幫助，并且在把信號源用作測試混頻器的LO信號時也經常要這樣。這兩個內置信號源的諧波成分也非常低（通常為–60 dBc 或更低），從而提高諧波和IMD測量的精度。此外，典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時很容易就可以讓放大器從線性工作范圍轉化到非線性工作范圍。